■文：Wa-People／李慧臻 Jane Lee新思科技（Synopsys）與台積公司合作推出針對台積公司之高效能運算（High Performance Compute）平台之創新技術; 這些新技術是由新思科技與台積公司合作之7奈米製程Galaxy 設計平台的工具所提供。雙方共同開發的技術包括：通路銅柱（via pillar）、多源樹合成（TCS）和混合時脈網格（clock mesh），以及可配合關鍵網（critical net）上阻力及電阻的自動化匯流排繞線(automated bus routing)等功能。在這些新科技的支援下，台積公司與新思科技幫助晶片設計人員針對7奈米製程進行先進的高效能設計。

■文：Wa-People／李慧臻 Jane Lee新思科技針對台積公司7奈米FinFET製程，完成了多項DesignWare邏輯庫(Logic Libraries)及嵌入式記憶體(Embedded Memories)的客戶測試晶片之投片(tapeout)，意味著雙方在台積7奈米FinFET製程在DesignWare邏輯庫、嵌入式記憶體及介面IP的合作開發上邁入另一里程碑。新思科技長期成功在台積公司先進FinFET製程上完成IP開發，製造出高效能、低功耗的系統級晶片(SoC)，此次合作讓新思IP發展再添成功紀錄。

■文：Wa-People／李慧臻Jane Lee新思科技宣布意法半導體(STMicroelectronics)已將TetraMAXII佈署在他們的標準SoC設計流程中。藉由TetraMAXIIATPG大幅加速測試型樣生成(testpatterngeneration)的執行時間(runtime)，並減少型樣數量。

■文：Wa-People／李慧臻Jane Lee新思科技宣布新的自動化測試型樣生成(AutomaticTestPatternGeneration，ATPG)工具TetraMAXII，已通過ISO26262汽車功能安全標準的認證。該工具能提供10倍快速的執行時間(runtime)，並減少25%的測試型樣(testpattern)。

■文：Wa-People／李慧臻Jane Lee新思科技宣布推出新一代ATPG解決方案TetraMAXII，採用了去年於國際測試會議(InternationalTestConference)上發表的創新測試引擎，而藉由將執行時間的速度提升一個量級(anorderofmagnitude)，TetraMAXII能讓ATPG執行時間從數日縮短至數小時，當先期矽晶樣本(earlysiliconsample)準備進行測試時，TetraMAXII能確保型樣就緒，此外，還可減少型樣達25%，讓IC設計團隊能縮短時程並降低測試矽晶的成本，也可因應汽車產業等特殊市場的需求，在不影響測試成本的情況下提升品質。重複使用經生產驗證(production-proven)的ATPG介面，可確保在IC設計及測試流程中達成簡單且零風險的佈署。