
- 文:Wa-People/王麗娟Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee
- 2015.12.21
圖說:交通大學柯明道教授鑽研靜電放電(ESD)防護技術三十年,不但研發成果豐碩、為產業培育人才,更大力投入產學合作,實際襄贊業界無數,獲頒行政院「傑出科技貢獻獎」,由行政院院長毛治國親自頒獎。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee為了提昇台灣在靜電放電(ElectrostaticDischarge,ESD)防護暨可靠度(Reliability)技術領域的研發能力,交通大學柯明道教授早期已於2001年推動「台灣靜電放電防護工程學會」成立,最近又於2014年創立「積體電路與電子系統之靜電放電防護技術產學聯盟」(簡稱「ESD產學聯盟」)並擔任該聯盟計畫主持人,積極推動產業靜電放電防護暨可靠度設計技術的全面提升。

- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 圖:Wa-People/編輯中心
- 2015.12.18
圖說:交大傳科於香港學報新聞獲中抱回三大獎,林霈楨的〈異鄉人在關西十年文創夢〉獲最佳新聞特寫冠軍、陳思寧的〈街頭異人訴說萬華風情〉獲最佳新聞特寫季軍,以及杜以翔的〈臺上臺下歌仔戲精采絕倫〉獲最佳攝影圖片季軍。■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen■圖:Wa-People/編輯中心日前於香港舉辦的「中國日報香港版校園學報新聞獎」,是由兩岸三地傳播學生共同競逐,競爭激烈。繼去年得兩獎,交大傳科系此次再以電子報「喀報」抱回三項大獎,得獎作品分別是林霈楨的〈異鄉人在關西十年文創夢〉獲最佳新聞特寫冠軍、陳思寧的〈街頭異人訴說萬華風情〉獲最佳新聞特寫季軍,以及杜以翔的〈臺上臺下歌仔戲精采絕倫〉獲最佳攝影圖片季軍。
- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 2015.12.17
■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen由自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)、工業技術研究院、電腦視覺監控產學研聯盟共同舉辦之「第15屆全國AOI論壇與展覽(2014TaiwanAOIForum&Show)」於國立交通大學開幕。今年活動主題聚焦於自動光學檢測(AOI)在工業4.0中的潛在商機,邀請正崴精密總經理王光宇、清華大學教授陳福榮、工研院產經中心(IEK)產業分析師戴熒美等知名專家帶來精闢的專題演講。現場共吸引國內外數百位專家、產業界人士共襄盛舉。

- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 圖:Wa-People/編輯中心
- 2015.12.16
圖說:合作備忘錄簽約儀式,左為龍華科技大學校長葛自祥,右為台灣是德科技董事長暨總經理張志銘。■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen■圖:Wa-People/編輯中心台灣是德科技與龍華科技大學簽署合作備忘錄,「微波通訊量測實驗室」正式啟用,由台灣是德科技董事長暨總經理張志銘以及龍華科技大學校長葛自祥共同主持;多位貴賓、師長、學生都蒞臨觀禮。隨後,至「微波通訊量測實驗室」揭牌、參觀實驗室與Keysight產品之介紹。

- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 圖:Wa-People/編輯中心
- 2015.12.04
圖說:(左起)在交通大學教授宋開泰指導下,研究所印尼籍學生RiskaAnalia李斯卡、Susanto蘇山拓,研發「八軸飛行器即時控制系統」結合遙控App,期望透過遙測技術監控農產環境。■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen■圖:Wa-People/編輯中心交通大學電控工程研究所印尼籍學生Susanto與RiskaAnalia在宋開泰教授指導下,研發八軸飛行器即時控制系統結合遙控App,期望透過遙測技術監控農產環境。研究成果獲第十四屆NI應用徵文競賽「機電整合與機器人研究組」亞軍。

- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 圖:Wa-People/編輯中心
- 2015.10.23
圖說:抗震盃歷經14屆競賽,國內外參賽學生總數超過5,500人,參賽隊伍專注組裝抗震模型。■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen■圖:Wa-People/編輯中心由國家實驗研究院與英國文化協會(TheBritishCouncil)聯合主辦的「2015抗震盃-地震工程模型製作國際競賽」,高中組、大專組及研究生組第一名分別由私立永年高級中學、香港科技大學及國立臺灣大學奪得,研究生組「隔減震創意獎」則由國立臺灣大學獲得。

- 文:Wa-People/陳文玲 Evelyn Chen
- 圖:Wa-People/編輯中心
- 2015.10.09
圖說:國研院儀科中心透過「光學系統整合研發聯盟」平台,結合巨積精密與師大機電系,成功研發「晶圓電性測試暨電路瑕疵檢測設備」。左起師大機電系教授張天立、儀科中心博士曾釋鋒、巨積精密總經理吳茂祥、儀科中心鍾健愷及巨積精密工程師吳博睿。■文:Wa-People/陳文玲Evelyn Chen■圖:Wa-People/編輯中心隨著消費性電子產品需求快速增長,對於IC精密檢測的需求亦不斷提高,推動了自動化檢測設備的市場發展。國家實驗研究院儀器科技研究中心(以下簡稱「儀科中心」)透過「光學系統整合研發聯盟」平台,結合巨積精密與師範大學機電工程系教授張天立研究團隊,共同研發「晶圓電性測試暨電路瑕疵檢測設備」,可協助國內廠商於半導體後段製程中快速精準判斷與篩選晶圓良窳。






