- 文:Wa-People/王麗娟 Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻 Jane Lee
- 2014.04.30
圖說:2014VLSI研討會開幕,今年ERSOAward得獎人三位得獎人與工研院院長合影。左起工研院院長徐爵民、研華科技董事長劉克振、矽品精密董事長林文伯、漢民微測董事長許金榮。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee潘文淵文教基金會成立的ERSOAward,28日在國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會(VLSI-TSA)與設計、自動化暨測試研討會(VLSI-DAT)大會上舉行頒獎典禮。2014年ERSOAward有三人獲獎,包括漢民微測科技董事長許金榮、矽品精密董事長林文伯,及研華科技董事長劉克振。
- 文:Wa-People/王麗娟 Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻 Jane Lee
- 2014.04.29
圖說:飛思卡爾半導體(Freescale)副總裁RonaldM.Martino於2014VLSI技術研討會上,分享該公司在汽車電子產業的長期耕耘與成果。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee一年一度,探索半導體新技術的盛會,國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會(VLSI-TSA)與設計、自動化暨測試研討會(VLSI-DAT),28日起一連在新竹舉行三天,這場從1983年起開始舉行的半導體界國際交流平台,除了提供產業界與學界發表技術成果與論文外,也積極打造亮點,邀請精彩的主講人,吸引國際人士來台。
- 2013.06.02
圖說:2013VLSI-TSA大會主席(GeneralChair)CharlesKinP.Cheung說,可靠度是各家企業的不揚之秘,但未來必須從開始設計,就考量到可靠度的問題。▓文:Wa-People/王麗娟Janet Wang▓圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee可靠度成顯學!美國國家標準技術研究院(NationalinstituteofStandardsandTechnology,NIST)為美國商務部(U.S.DepartmentofCommerce)所轄之一研究機構。於1901年設立,為美國聯邦所設立第一個物理科學研究實驗室。NIST的CMOS元件與可靠度部門主管CharlesKinP.Cheung為2013VLSI-TSA大會主席(GeneralChair),他表示,可靠度ㄧ直是電子元件的重要課題。講究可靠度,是品質的核心價值,很多人不隨便公開談論可靠度的課題,因為,這可說是各家公司的最高機密。
- 文:Wa-People/王麗娟Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee
- 2013.05.29
圖說:Intel實驗室副總裁暨整合平台研究總監VidaIlderem在2013年VLSI-TSA及VLSI-DAT上發表專題演講,分享Intel實驗室在超省電晶片探索成果。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee超省電探新路Intel實驗室全球半導體界追求省電晶片的極致,如今,不靠外接電源,也能運作的晶片,已走出一條令人期待的路。在英特爾實驗室(IntelLabs),ㄧ顆取名克萊蒙特(Claremont)的超省電晶片,是ㄧ顆真正x86架構的奔騰處理器,可以直接插上舊有的奔騰主機板上工作。Intel實驗室副總裁暨整合平台研究總監VidaIlderem在2013年VLSI-TSA及VLSI-DAT上發表專題演講,分享該實驗室在超省電晶片探索成果。
- 文:Wa-People/王麗娟Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee
- 2013.05.28
圖說:2013年ERSOAward得主,左起頎邦科技吳非艱董事長、潘文淵文教基金會董事長史欽泰、聯詠科技何泰舜董事長、正文科技陳鴻文董事長、潘文淵文教基金會秘書長羅達賢。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee2013年VLSI-TSA與VLSI-DAT開幕當天,特別頒發2013年ERSOAward得主,由台積電蔣尚義共同營運長、聯詠科技何泰舜董事長、頎邦科技吳非艱董事長,及正文科技陳鴻文董事長獲得殊榮。
- 文:Wa-People/王麗娟Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee
- 2013.05.27
圖說:全球菁英匯集、放眼前瞻未來。從1983年開始舉行的「國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會(VLSI-TSA)」,今年已經屆滿30年。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee「國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會(VLSI-TSA)」與「設計、自動化暨測試研討會(VLSI-DAT)」,從4月22日起一連舉行三天。來自全球的半導體領域技術專家與研究人員超過千人參家,共同探討未來半導體與晶片的技術與應用趨勢。
- 文:Wa-People/王麗娟Janet Wang
- 圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee
- 2012.05.24
圖說:工研院電光所所長詹益仁,為主導2012VLSI議程設計的關鍵人物之一。■文:Wa-People/王麗娟Janet Wang■圖:Wa-People/李慧臻Jane Lee一場國際性的產業技術研討會,在議題的設計上,如何創新,可說是這場產業盛宴是否出色的重要關鍵。由工研院主辦的「國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會(VLSI-TSA)」與「設計、自動化暨測試研討會(VLSI-DAT)」,2012年的議程相較往年,對系統與軟體,展現了高度重視。如果以服務業的口吻,這可說是,以客為尊的態度。
- 文:王麗娟 Janet Wang
- 2011.05.28
圖說:表揚對產業貢獻卓著人士,2011年的ERSOAward得主出爐。右起頒獎人潘文淵文教基金會董事長史欽泰、得獎人勝華科技董事長黃顯雄、雷凌科技董事長高榮智、晶元光電董事長李秉傑、潘文淵文教基金會執行長羅達賢。(圖片提供:工研院)■文:王麗娟Janet Wang2011VLSI半導體產業盛宴(一)和台灣半導體產業關係密切的「潘文淵文教基金會」,於半導體產業前瞻技術研討會2011VLSI開幕典禮上,頒發2011ERSOAward給勝華科技董事長黃顯雄(Dr.HyleyH.Huang)、雷凌科技董事長高榮智(ChrisKao)及晶元光電董事長李秉傑(Dr.BiingJyeLee),肯定他們為國內LED、中小尺寸面板、無線通訊晶片IC設計開創新局做出的貢獻。
- 撰稿:葉騰豪
- 攝影:李慧臻 Jane Lee
- 2010.07.01
圖說:電荷殘留會影響元件特性!旺宏電子主任工程師葉騰豪在2010VLSI-TSA發表該公司採BE-SONOS結構研究,發現將閘極蝕刻控制成垂直狀,將是應用關鍵。2010VLSI半導體產業盛宴(五)■撰稿:葉騰豪■攝影:李慧臻Jane Lee近年來,利用氮化矽局部電荷儲存原理,取代浮停閘(FloatingGate)記憶體晶胞的研究越來越多。因此關於氮化矽記憶體元件可靠度的研究也越顯得重要。本文著重於研究由閘極蝕刻所引發的形狀效應,並且討論其在NAND陣列下所反應出來的元件特性。