圖說：2013VLSI-TSA大會主席（GeneralChair）CharlesKinP.Cheung說，可靠度是各家企業的不揚之秘，但未來必須從開始設計，就考量到可靠度的問題。▓文：Wa-People／王麗娟Janet Wang▓圖：Wa-People／李慧臻Jane Lee可靠度成顯學！美國國家標準技術研究院（NationalinstituteofStandardsandTechnology,NIST）為美國商務部（U.S.DepartmentofCommerce）所轄之一研究機構。於1901年設立，為美國聯邦所設立第一個物理科學研究實驗室。NIST的CMOS元件與可靠度部門主管CharlesKinP.Cheung為2013VLSI-TSA大會主席（GeneralChair），他表示，可靠度ㄧ直是電子元件的重要課題。講究可靠度，是品質的核心價值，很多人不隨便公開談論可靠度的課題，因為，這可說是各家公司的最高機密。

圖說：2013年ERSOAward得主，左起頎邦科技吳非艱董事長、潘文淵文教基金會董事長史欽泰、聯詠科技何泰舜董事長、正文科技陳鴻文董事長、潘文淵文教基金會秘書長羅達賢。■文：Wa-People／王麗娟Janet Wang■圖：Wa-People／李慧臻Jane Lee2013年VLSI-TSA與VLSI-DAT開幕當天，特別頒發2013年ERSOAward得主，由台積電蔣尚義共同營運長、聯詠科技何泰舜董事長、頎邦科技吳非艱董事長，及正文科技陳鴻文董事長獲得殊榮。

圖說：全球菁英匯集、放眼前瞻未來。從1983年開始舉行的「國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會（VLSI-TSA）」，今年已經屆滿30年。■文：Wa-People／王麗娟Janet Wang■圖：Wa-People／李慧臻Jane Lee「國際超大型積體電路技術、系統暨應用研討會（VLSI-TSA）」與「設計、自動化暨測試研討會（VLSI-DAT）」，從4月22日起一連舉行三天。來自全球的半導體領域技術專家與研究人員超過千人參家，共同探討未來半導體與晶片的技術與應用趨勢。