圖說：應用材料公司推出業界首創的產線用3D臨界尺寸量測掃描式電子顯微鏡(3DCDSEM)量測系統NewVeritySEM5i。■文：Wa-People／洪瑞英RaeHung■圖：Wa-People／編輯中心應用材料公司近期在加州聖荷西市舉行的國際光學工程學會(SPIE)先進微影技術研討會上，推出業界首創的產線用3D臨界尺寸量測掃描式電子顯微鏡(3DCDSEM)量測系統，在測量3D快閃記憶體(3DNAND)和鰭式場效電晶體(FinFET)元件的高深比及複雜功能上，能有效克服瓶頸。最新的AppliedVeritySEM5i系統，提供先進的高解析度影像及背向散射電子(BSE)技術，以實現優異的產線CD控制。使用VeritySEM5i系統，可加速晶片製造商製程開發及產量提升，改善量產後的元件效能及良率。

圖說：是德科技推出PXIe高速數位激發/響應模組，具備同步多站點激發與響應功能的高速數位碼型產生器，讓工程師可以更高效率進行設計驗證和產品測試。■文：Wa-People／陳文玲Evelyn Chen■圖：Wa-People／編輯中心是德科技（KeysightTechnologiesInc.）日前宣佈推出具備參數量測單元（PMU）與16個通道的PXIe高速數位激發/響應模組。KeysightM9195APXIe模組具備快速靈活的射頻晶片組測試模擬與元件特性分析能力，讓測試工程師能夠更有效率地進行設計驗證與產品測試。

圖說：儀科中心「光學系統整合研發聯盟」，(左起)儀科中心蔣東堯博士、宇傑真空公司陳日開總經理、明志科大陳勝吉教授、儀科中心李昭德博士、宇傑真空公司張恩豪博士、明志科大馬李哲維同學、明志科大林柏均同學。■文：Wa-People／洪瑞英RaeHung■圖：Wa-People／編輯中心在國際綠色風潮席捲之下，為協助我國產業爭取國際節能商機，由國家實驗研究院儀器科技研究中心（簡稱儀科中心）「光學系統整合研發聯盟」主導，結合宇傑真空科技公司以及明志科技大學陳勝吉教授產學研三方能量，開發將氮化鎵薄膜成長於矽基板之「二硼化鋯（ZrB2）緩衝層製程技術與設備」，可降低LED製程成本達30%，並延長LED使用壽命25%，可有效提升我國綠能產業國際競爭優勢。

圖說：円星科技論文榮獲殊榮，(右)台積電設計建構行銷事業處資深處長SukLee頒發「論文客戶首選獎」給(左)円星科技董事長林孝平。■文：Wa-People／洪瑞英RaeHung■圖：Wa-People／編輯中心円星科技(M31Technology)，於2014年台積電開放創新平台生態系論壇(OpenInnovationPlatform，OIP)活動中所提交的一篇論文，榮獲客戶首選獎(Customers’ChoiceAwards)。論文題目為「電子可攜式裝置從主機裝置萃取時脈進行資料處理的方法」(MethodofPortableDeviceProcessingDataBasedonClockExtractedfromHostDevice)，三位論文作者為張原熏副總、黃鼎鈞技術經理、易育聖技術經理。

圖說：是德科技聆聽全世界工程師用戶的需求，推出全球首款具備視覺化示波器觸控功能的電源分析儀。■文：Wa-People／王麗娟Janet Wang■圖：Wa-People／李慧臻Jane Lee開發新的電子產品，省電與用電效率，是研發工程師除了追求功能新穎之外，最大的挑戰。省電的電子產品，不但能為企業締造利潤，還能長期累積商譽價值。