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結合AI辨識 加速奈米級缺陷檢測  

應用材料推出SEMVision H20系統將業界最靈敏的電子束技術結合先進的AI影像辨識,能夠更精確、迅速地分析埋藏在世界上最先進晶片裡的奈米級缺陷。

春遊中科 櫻花音樂綠盎然

中科管理局持續打造優質生活環境,於22日及23日兩天在后里園區舉辦「2025年春遊中科-綠藝盎然櫻樂匯」。

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