圖說：Anritsu 安立知與汎銓深化合作，共同推進矽光子檢測方案，圖為Anritsu VectorStar ME7848A 系統。
Anritsu 安立知宣布，半導體檢測分析廠汎銓科技（MSSCORPS）採用 Anritsu 安立知領先市場的光電網路分析儀（Opto-electronic Network Analyzer；ONA）VectorStar ME7848A 系統，藉由導入該系統的高精度量測能力，汎銓成功為其自主研發的 MSS HG 檢測設備提供光電量測的選配服務及功能，以確保其矽光子（Silicon Photonics）測試技術的精準度與穩定性，進一步拓展於矽光子領域的商務布局。
Anritsu 安立知的 VectorStar ME7848A 系統採用創新的模組化方法，可在波長為 850 nm、1310 nm 和 1550 nm 的矽光子元件上實現經濟高效的 O/E、E/O 和 O/O 測量。該系統具有快速切換測量模式的能力，其測量結果由 MN4765B O/E 校正模組建立並具備 NIST 可追溯性。憑藉其強大的全面測量能力，包含響應度參數（頻率響應、轉換效率等）、遞移函數、群延遲測量、光損耗以及平衡測量和 E/E 測量等，能完美應對 70 GHz、110 GHz、145 GHz 甚至高達 170GHz 高頻系統的嚴苛測試挑戰。
汎銓透過導入 Anritsu 安立知的光電量測技術為其高效能設備進行技術驗證，確保其量產設備符合最高規格的品質標準，全面因應高頻系統的嚴苛測試挑戰。未來，汎銓 MSS HG 設備除了標準配置外，更將透過高度彈性的架構進一步整合包含 ONA、眼圖（Eye Diagram）及 BERT（誤碼分析儀）等高階選配功能，打造全方位的矽光子高值化測試平台，為半導體晶圓製造、IC 設計與 CPO 封裝業者提供更即時可靠的解決方案。
「汎銓的目標是為半導體產業提供最精準、高效率的材料分析與故障分析技術」汎銓董事長柳紀綸表示:「選用 Anritsu 安立知的技術與平台，正是基於其在光電與高頻測試領域的領導地位。結合 Anritsu 安立知高穩定度且具高擴充性的測試方案（如 ONA、BERT 等），使我們能確保MSS HG 設備的光損定位精確性與通用性，進一步鞏固汎銓作為全球半導體分析品牌領導者的地位。」
Anritsu安立知美國區總裁暨M3US事業部總經理Pete Pragastis表示：「汎銓在半導體與矽光子檢測領域展現了卓越的技術創新實力，結合 Anritsu 安立知先進的 ONA 測試解決方案，雙方攜手為矽光子檢測設備定義了全新標準，並為高速光通訊與 CPO 封裝技術的未來開拓了更多可能性。Anritsu 安立知期望持續深化與汎銓的合作，共同推動先進光電技術在半導體產業的創新應用，引領產業發展並為全球客戶創造更高價值。」
