圖說：Anritsu 安立知助力村田製作所，開發 USB 3.2 雜訊抑制解決方案。
Anritsu 安立知23日宣佈，村田製作所（Murata Manufacturing）採用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，成功解析 USB 3.2 通訊過程中導致雜訊產生的機制。
USB 3.2 通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路 （WLAN） 和 Bluetooth 無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。
村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標準組織 USB 3.2 RFI 系統級測試的電磁雜訊測試環境，並於該環境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A，釐清了導致雜訊產生的機制。
Anritsu 安立知致力於建立雜訊抑制解決方案，其結合了村田 Murata 在雜訊控制方面的專業技術和共模扼流線圈，可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。
頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A
- 內建向量/類比訊號產生器等功能，涵蓋了廣泛的應用範圍
- 有助於提高開發和製造效率 （9 kHz 至 13.5 GHz）
