安立知實現5G UE毫米波3D EIS掃描測試時間最佳化

圖說:Anritu 安立知為其無線通訊綜合測試平台 MT8000A

圖說:Anritu 安立知為其無線通訊綜合測試平台 MT8000A

Anritu 安立知為其無線通訊綜合測試平台 MT8000A 推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026 全新軟體選項,透過機器學習 (Machine Learning) 實現最佳化的 5G 毫米波 (mmWave) 3D EIS 掃描 (EIS-CDF) 測試時間。

隨著北美和日本等發達經濟體正加快推出快速連接 5G mmWave (FR2) 服務的步伐,mmWave 使用者設備 (UE) 的研發和一致性測試預計將在未來成為更活絡的市場。

3GPP 標準規定在 OTA (Over-the-Air) 測試環境中以 3D 測試 mmWave UE 天線特性。然而, 3D測試由於數量或測量點較多,需要花費較長的測試時間。

使用機器學習途徑得以大幅縮短這一漫長的測試時間,並可望最佳化 mmWave UE 的測試效率進而變得更普及。

MX800010A-026 軟體選項支援使用 Anritsu 安立知的縮距天線量測場 (Compact Antenna Test Range;CATR) 電波暗室 MA8172A 進行 3D EIS 掃描測試,其方式是透過自動化學習 UE 天線特性,從而提高測試效率。使用相同的 UE 重複多次 3D EIS 掃描,有助於最佳化測試效率。

機器學習透過後續的重複學習,讓兩個 mmWave UE 模型的測試時間最佳化了大約 35% 至 60%。


圖說:MX800010A-026 軟體選項支援使用 Anritsu 安立知的縮距天線量測場 (Compact Antenna Test Range;CATR) 電波暗室 MA8172A 進行 3D EIS 掃描測試

多合一的 MT8000A 平台支援射頻 (RF)、協議和應用操作測試,以及波束驗證和波束特性評估。MT8000A 除了具有開發 5G 晶片組和 UE 所要求的非獨立 (NSA) 和獨立 (SA) 模式基地台操作之模擬功能,還支援所有的 5G FR1 (600 MHz、2.5 GHz、3.5 GHz、4.5 GHz 和 6 GHz 免授權) 和 FR2 (24 GHz、28 GHz、39 GHz 和 43 GHz) 頻段。

CATR 電波暗室 MA8172A 使用符合 3GPP 標準的 CATR 方法,可在狹小空間中實施 5G NR OTA 測試。它可用於 5G NR 晶片組和 UE 的 mmWave 開發和一致性測試。

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