圖說：臺灣大學與 Anritsu 安立知共同開發 RIN 自動測試驗證系統，圖為臺大所採用安立知 MS2850A列的頻譜分析儀/ 訊號分析儀平台。
Anritsu 安立知宣佈，國立臺灣大學光電工程學研究所採用 Anritsu 安立知 MS2850A 系列的頻譜分析儀/ 訊號分析儀平台，成功應用於垂直共振腔面射型雷射（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser；VCSEL）測試，並且搭載與臺大光電所教授吳肇欣團隊共同開發的自動測試軟體，進行雷射相對強度雜訊（Relative Intensity Noise；RIN）驗證，為 VCSEL 元件開發提供自動測試方案，並將持續合作共同推動 VCSEL 產業發展。
由於光發射元件的發展突飛猛進，且其性能直接影響數位及類比光通訊系統的整體效能，RIN 參數評估的重要性也將與日俱增。隨著光纖傳輸系統朝向高速與多模發展，在高性能、多波長及高集成度雷射的評估中，如何快速完成 RIN 特性的量測將是一大挑戰。
MS2850A 訊號分析儀是一款高階的訊號與頻譜分析儀組合，可支援頻率範圍為 9 kHz 至 32 GHz 或 44.5 GHz，其具備卓越的動態範圍、振幅與近端相位雜訊性能，精準的平均顯示雜訊位準 （DANL） 適用於高速光電子元件的微小雜訊量測。藉由多種波長的光電轉換器選擇，可以實現全頻域 RIN 快速精準量測的目的。
「大數據與生物感測需求迫在眉睫，刺激光通訊與 3D 感測導入 VCSEL 速度不斷加快」臺灣大學光電所教授吳肇欣表示：「Anritsu 安立知不僅提供了完整且穩定的測試平台，同時也有優秀的技術人員，協助我們的團隊共同開發 RIN 自動測試驗證系統，並且成功運用於 VCSEL 測試，期許未來持續合作以因應廣泛的雷射應用量測需求。」
Anritsu 台灣區總經理陳逸樺表示：「很高興國立臺灣大學持續信賴 Anritsu 安立知通訊設備的先進技術，這次的合作由國立臺灣大學光電工程研究所提供計算原理及量測架構，與 Anritsu 安立知工程部和軟體部門共同開發完成 RIN 的自動量測方案，除了採用 MS2850A/MS2840A/MS2830A 系列訊號分析儀外，也整合相關的量測設備，大幅縮短產品測試驗證時間，使得 RIN 的測試更為快捷便利。」
