菁英群力出書 為《X參數》立權威

■文:Wa-People/洪瑞英 Rae Hung

安捷倫科技(Agilent)近期宣布出版《X參數:非線性射頻與微波元件之特性分析、建模與設計》,該書闡述了安捷倫突破性的非線性X參數量測、建模和模擬技術。該書由劍橋大學出版社出版,書中提供多個應用範例,是深入介紹X參數理論的權威指南。

X參數為安捷倫科技的商標。X參數格式與底層公式均對外公開並有文件記錄。更多關於商標使用的資訊,請參考X參數開放文件、商標使用及合作方式說明。

《X參數:非線性射頻與微波元件之特性分析、建模與設計》一書由David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn和Mihai Marcu等多位安捷倫科學家與工程師合著。他們是X參數理論的原創發明人和開發者。此一強大理論已被廣泛應用於非線性射頻與微波元件和系統。同時,該書作者也是業界和學界公認的建模、模擬和量測科學領域的權威專家。 這本書為X參數技術奠定了基礎,並透過實際案例為讀者提供實用的概算方法,藉以大幅降低非線性元件和系統的量測、建模和設計複雜度。書中並清楚講解如何利用X參數解決非線性射頻與微波工程中錯綜複雜的問題。

本書中並提供實際案例分析、標準符號和表示法的定義、詳細推導(參見附錄)、練習題及解答。如此完整詳實的內容,讓為那些希望了解射頻與微波工程學最新發展趨勢的研究人員、工程師、科學家和學生,能夠獲得專業而權威的參考。



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